半導體檢測龍頭汎銓科技近日強勢提告光焱科技，指控其侵害關鍵的「光學損傷檢測」發明專利，並求償新台幣2億元，此舉震撼了AI傳輸命脈所在的矽光子檢測市場。這場由汎銓董事長柳紀綸發動的法律攻勢，不僅揭示了台灣矽光子產業的首例專利戰，更預示著檢測雙雄在市場主導權上的激烈爭奪，引發業界高度關注。
汎銓強勢出擊：2億專利訴訟揭示市場野心
數據發現：根據汎銓科技公開資訊，該公司已正式向智慧財產及商業法院提告，指控光焱科技涉及侵害其核心的「光學損傷檢測裝置」發明專利（I870008B），並提出高達新台幣2億元的損害賠償要求。
解讀意義：汎銓董事長柳紀綸在會中語氣堅定地表示，這項專利技術與裝置，汎銓已取得台灣、日本、美國等多國專利，且佈局時間長達六年。他強調：「電的IC容易找到故障點，但光的IC卻極難定位。如何找到『光損定位』，就是整個矽光子失效分析（FA）的入海口，如果沒辦法精確定位光損的位置，後面所有的分析通通不用做。」這番話語凸顯汎銓對此技術的戰略定位，視其為矽光子檢測的基石。
產業影響：柳紀綸進一步宣示，汎銓的野心不僅止於提供分析服務，更計劃於今年底推出量產版的檢測機台，單台售價預估將突破1億元。面對媒體詢問和解或授權的可能性，他直截了當地拒絕：「如果是競爭同業，我絕對不會答應。和解的前提就是他不能再做，我要的是市場寡佔，這點沒有空間可以談。我的企圖心是市佔率要達到90%以上。」這明確展現汎銓欲在矽光子檢測市場取得絕對領先地位的決心。
汎銓董事長柳紀綸：「這個技術跟裝置，我們已經拿到了台灣、日本、美國的專利。矽光子（SiPh）的晶片開發與傳統電路（IC）截然不同…如何找到『光損定位』，就是整個矽光子失效分析（FA）的入海口，如果沒辦法精確定位光損的位置，後面所有的分析通通不用做。」
光學損傷檢測：AI時代矽光子失效分析的關鍵技術
數據發現：汎銓的「光學損傷檢測」技術，核心在於搭載IR-NIR CCD的感測技術。根據汎銓的說法，這是其與美系AI巨頭如Meta、NVIDIA從研發端一路合作磨合而出的成果，具備高度實用性與市場價值。
解讀意義：柳紀綸形容這是一份「具備強大攻擊性的專利」，並表示：「我們的專利寫得很清楚，甚至可以說是故意寫得這麼白。如果你要在機台上面裝IR相機去搜尋矽光子訊號，那就是進了我的權利範圍。這絕對抓得到，因為眼睛就看得到，這對我們來說是非常容易取證的。」這項技術的精確性與可驗證性，使其成為矽光子晶片失效分析中不可或缺的一環。
產業影響：隨著AI應用對資料傳輸速度與頻寬需求快速提升，矽光子與共同封裝光學（CPO）技術已成為半導體下一個十年的關鍵戰場。汎銓此項專利技術的確立，對未來矽光子晶片的開發、良率提升與量產，將構成重要的技術門檻與市場規範，也為AI傳輸命脈的穩定性提供關鍵支援。
光焱科技反擊：16年自主研發與營運無礙
數據發現：針對汎銓的強勢出招，光焱科技隨即於傍晚發布重大訊息回擊。光焱發言人廖清霖協理聲明指出，公司深耕光學檢測領域長達16年，旗下的核心技術皆為「自主研發」，且截至目前尚未收到法院送達的正式起訴狀或法律訴訟資料。
解讀意義：光焱董事長柯歷亞亦對外表示，光焱在光學檢測與光電子晶片檢測領域深耕已久，其核心產品均為團隊自主研發之自有技術，完全沒有必要、也並未套用他家公司的技術。這顯示光焱對自身技術的獨立性與合法性具有高度信心，並強調其長期投入研發的成果。
產業影響：光焱科技在公告中鄭重指出，公司目前也有多項專利正在申請程序中，待收到正式訴訟文件後，會委請律師團隊積極配合司法程序進行必要答辯。光焱評估，就目前掌握的情節來看，此案對公司財務及業務均不致產生重大影響，各項營運、業務及設備出貨皆照常運作，呼籲股東與客戶放心，旨在穩定市場信心。
光焱發言人廖清霖協理聲明：「公司尚未收到任何法院送達之正式起訴狀或法律訴訟資料。」
光焱董事長柯歷亞：「光焱在光學檢測與光電子晶片檢測領域深耕已久，旗下的核心產品均為團隊自主研發之自有技術，完全沒有必要、也並未套用他家公司的技術。」
數據背後的啟示：矽光子專利戰與產業未來
數據發現：這場由汎銓與光焱兩大半導體檢測股引爆的專利爭霸戰，不僅是台灣矽光子產業的首例，更將汎銓的定位從單純的驗證分析服務，提升至具備「裝置銷售」能力的技術領航者。
解讀意義：檢測雙雄的對槓，反映出先進技術的競爭已從單純的製程端，延伸至檢測與關鍵設備的專利防線。汎銓營運長周學良已轉任專注於裝置開發，並預計在10月推出第一台外觀採「鋼琴烤漆」的正式銷售版機台。柳紀綸信心滿滿地說，未來無論是日本或美國的大型設備商，若想進入這個生態系，都得面臨汎銓的專利壁壘。
產業影響：這場「兩億元之爭」究竟是專利保衛戰還是市場卡位戰，將交由法律程序給出最終答案。然而，其結果無疑將重塑矽光子檢測市場的競爭格局，並對AI時代的半導體產業發展產生深遠影響，促使更多業者投入專利佈局，以確保在高速成長的矽光子領域佔有一席之地。
