根據業界最新觀察，光焱科技（7728）於 2026 年 3 月 26 日嚴正駁斥汎銓科技（6830）單方面提出的專利侵權指控，強調雙方在「光損偵測裝置」的技術基礎上存在顯著的世代差異。此一爭議核心，聚焦於光焱所採用的先進「高光譜成像技術感測模組」，與汎銓所聲稱專利所基於的傳統「金相顯微鏡」技術截然不同，引發業界對矽光子晶片檢測領域專利界線的廣泛討論。
專利爭議核心：技術世代的顯著落差
在當前半導體產業快速迭代的背景下，光焱科技指出，汎銓科技所主張的第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，其核心技術係採用傳統的金相顯微鏡來進行光損量測。然而，光焱科技自主研發的解決方案，則是基於次世代、更為先進的高光譜成像技術感測模組。這種技術差異不僅是量測工具的升級，更代表著檢測思維與應用範疇的根本性革新。
光焱科技進一步闡明，其高光譜成像感測模組能高度整合於客戶端的系統，例如探針台或電測機，直接實現高效能的矽光子光學檢測。其中，光損檢測僅是光焱在多功能矽光子晶片檢測模組中的一項應用。這意味著，汎銓以舊有金相顯微鏡專利來指控光焱新世代的高光譜影像感測模組，在技術邏輯上是站不住腳的。
光焱科技嚴正駁斥：「拿之前的金相顯微鏡專利，來告我們新世代的高光譜影像感測模組，在技術上是完全站不住腳的。」此番言論直指雙方技術核心的本質差異，強調專利保護的應是特定的技術實施手段，而非將「光損檢測」這類通用功能註冊為商標，進而壟斷整個市場。
專利有效性之辯：舉發案背後的技術認定
針對汎銓科技在記者會上高調宣稱其專利曾挺過 17 項舉發而維持有效，光焱科技也提出了專業的見解予以反擊。經檢視相關公開資料，該專利舉發案之所以不成立，主要原因在於當時的舉發人提出了更為先進的檢測技術與零組件作為證據。然而，主管機關最終認定這些先進技術與汎銓所採用的傳統金相顯微鏡技術「無關」，因此舉發案不成立。
這個裁定結果，恰好間接證明了汎銓的專利所保障的僅限於其自身所採用的傳統技術範疇。換句話說，這份專利並未涵蓋或預見到如光焱科技所開發的高光譜成像系統等新世代檢測技術。這也進一步明確證實，光焱科技所採用的技術與汎銓的技術截然不同，自然毫無侵權疑慮，為此類技術爭議劃清了界線。
業界普遍認知，專利權旨在保護特定的技術發明與實施方式，而非將某個檢測功能詞彙據為己有。若依汎銓的邏輯，所有具備「光損檢測」功能的設備都構成侵權，這將嚴重阻礙產業創新與技術發展。光焱科技表示：
「不能因為汎銓針對其自有技術申請了專利，就無限上綱認定市場上所有具備『光損檢測』功能的設備皆侵害其權益。」此一論點凸顯了專利權的合理界線。
產業視野：專利權與市場創新的界線
在快速演進的科技產業中，專利權的劃定對於維護公平競爭與鼓勵創新至關重要。光焱科技以國際光學大廠蔡司（Zeiss）近期宣佈進軍光損檢測領域為例，質疑汎銓說法的邏輯偏頗性。難道蔡司的行動也構成對汎銓的侵權嗎？這項反問直接挑戰了汎銓專利指控在產業技術與法律邏輯上的合理性。
光焱科技深耕光學與光電子晶片檢測領域已長達 16 年，始終極度尊重智慧財產權。公司所有核心產品均為其團隊自主研發，並未且無須使用其他公司之技術與專利。這不僅是對自身研發實力的自信，更是對產業規範的堅守。面對此次同業的不實指控與行銷操作，光焱科技強調，截至 2026 年 3 月底，公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響，展現其穩健的經營態勢。
光焱科技表示，公司「並未收到任何法院相關訴訟函件」，並對於同業在尚未經完整司法程序前，即透過媒體發布資訊，阻礙產業創新之行為深感遺憾，並對此類之競爭手段予以嚴正譴責。
數據背後的啟示：捍衛創新與市場秩序
這場關於「光損偵測裝置」專利侵權的爭議，不僅是兩家公司之間的法律攻防，更是對半導體檢測技術發展方向與專利保護原則的深層探討。光焱科技的立場，清晰地劃分了傳統金相顯微鏡技術與次世代高光譜成像技術之間的界線，強調技術創新不應被過時的專利概念所束縛。
此事件也提醒業界，在追求技術領先的同時，更需審慎處理智慧財產權議題，避免不實指控對市場秩序與產業創新造成負面影響。光焱科技已表明，後續將積極配合司法程序進行答辯，以捍衛公司、客戶及全體股東的合法權益，確保台灣半導體產業的創新活力能夠持續蓬勃發展。
