光焱科技Night Jar-H年底完成量產驗證，瞄準矽光子良率難題

光焱科技（7728）30日宣布，旗下針對量產需求開發的矽光子光缺陷檢測設備Night Jar-H已完成開發，並與國際一線大廠完成初步PoT驗證。公司表示，後續將陸續展開HVM（High Volume Manufacturing）量產驗證，評估其導入實際製造流程與量產環境的可行性，設備驗證預計於今年底完成。

各方反應與評估

光焱科技發言人廖清霖指出，設備驗證正在持續推進，合作夥伴亦同步規劃後續HVM驗證工作。驗證內容已逐步由設備功能驗證，延伸至量產導入與製造流程整合的評估。公司對後續發展保持樂觀。

業界專家表示，HVM驗證是評估一項技術能否真正導入量產環境的關鍵階段。除了確認設備功能外，更重要的是驗證與既有製造流程的整合能力、量測效率、運行穩定性，以及對良率管理的實際貢獻。半導體產業衡量一項新技術的關鍵，是能否穩定融入量產流程，因此HVM驗證是技術由工程驗證（Engineering Validation）邁向量產導入的重要里程碑。

背景補充與前景展望

矽光子晶片進入量產階段後，光缺陷的檢出效率與良率管理成為產業共同面對的課題。Night Jar-H可在量產流程中篩出高風險晶粒（Risky Die），除有助於縮短整體量測時間外，也有機會協助解決目前CPO量產的關鍵議題之一—SiN（氮化矽）良率問題。

光焱科技進一步說明，矽光子檢測技術自2026年至2027年正由工程驗證走向量產，過程中已逐步克服系統整合與驗證等挑戰。公司也積極籌備相關產能，並於年底動工新廠，以因應未來需求。廖清霖強調，光焱並非IC設計公司，也不是晶圓代工廠，而是定位為AI光學製造智慧平台（AI-driven Optical Manufacturing Intelligence Platform），透過光學影像、AI與製造數據分析，協助矽光子產業提升良率管理效率、降低測試成本，並加速量產導入，服務涵蓋設計、製造、封裝與測試等供應鏈環節。

Night Jar與Night Jar-H量產機型在架構上均可支援CPO（共同封裝光學）與NPO（近封裝光學）兩種路徑。不論產業短期內走向CPO或NPO，光焱的檢測技術均可適用於相關檢測需求。公司將於9月SEMICON Taiwan展出PIC（光子積體電路）量產機資訊，並舉辦技術講座，就矽光子檢測技術與量產導入進展進行進一步說明。

從產業面來看，光焱科技的Night Jar-H量產驗證成功，將為矽光子產業帶來重大突破。隨著量產需求的不斷增加，良率管理和測試效率成為關鍵挑戰。Night Jar-H的推出，不僅有助於提高生產效率，還能解決CPO量產中的SiN良率問題，有望成為業界的標杆。

光焱科技2026年上半年營收2.08億元，較去年同期1.64億元成長27.01%，其中6月單月營收5360萬元、年增114.18%，為近12個月單月新高。第1季財報顯示，營業利益2224.7萬元（去年同期1089.4萬元）、稅前淨利2645.4萬元（去年同期1700萬元）、每股盈餘1.53元（去年同期1.06元），目前公司對於Q3的展望持續保持樂觀。

隨著光焱科技在矽光子檢測技術上的不斷進步，未來的量產導入將成為業界關注的焦點。如果你對這項技術感興趣，不妨關注光焱科技即將於9月SEMICON Taiwan展出的最新成果。

本文改寫整理自公開新聞來源，原始報導由Yahoo奇摩新聞發布。