新台幣兩億元的求償數字，像一顆震撼彈，瞬間引爆了臺灣半導體檢測產業的專利戰火。針對汎銓科技25日提出的專利侵權訴訟，光焱科技旋即於26日發布新聞稿強力反擊，直指汎銓所主張的「光損偵測裝置」專利，實為舊世代技術，根本無法適用於光焱所開發的次世代「高光譜成像技術」。這不僅是一場法律攻防，更揭示了半導體檢測領域新舊技術迭代的深層矛盾。
表象：一紙訴狀與兩億求償
這場風波始於汎銓科技25日的重大訊息，其宣稱對光焱科技侵害其第 I870008B 號「光損偵測裝置」發明專利提告，並提出高達新台幣兩億元的賠償要求。消息一出，立即在業界投下震撼彈。然而，光焱科技在26日迅速回應，光焱科技發言人廖清霖明確表示，截至目前為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件。這不禁讓人質疑，在司法程序尚未啟動前，透過媒體發布訊息的意圖為何？
光焱科技發言人廖清霖指出：「公司並未收到任何法院相關訴訟函件。對於同業在未經司法程序前，即試圖透過媒體發布資訊煙霧彈，實則以法律手段干擾市場正常運作、阻礙產業創新之行為深感遺憾，並對此類不正當之競爭手段予以嚴正譴責。」
光焱科技進一步強調，公司深耕光學與光電子晶片檢測領域已長達16年，向來極度尊重智慧財產權，所有核心產品皆為團隊自主研發，並未且無須使用其他公司之技術與專利。面對此次同業的不實指控與行銷操作，光焱科技強調公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響。
真相：技術世代的鴻溝
這起專利侵權訴訟的核心爭議，其實是一場「新舊技術」的對決。光焱科技直言，雙方在檢測技術的世代上存在顯著落差。汎銓所宣稱的專利，其方案採用的是傳統「金相顯微鏡」進行光損量測。話說回來，光焱科技則是以次世代、更先進的「高光譜成像技術感測模組」為核心。這種模組可高度整合於客戶端的系統，如探針台、電測機，直接進行矽光子光學檢測，而光損檢測僅是其多功能模組中的一項應用。
光焱科技堅定表示，拿舊時代的金相顯微鏡專利，來控告他們新世代的高光譜影像感測模組，在技術層面上是完全站不住腳的。 這就像是用黑白電視的專利去告彩色電視的製造商，兩者之間存在本質上的技術代差。
各方角力：專利攻防與市場擾亂
針對汎銓在記者會上宣稱其專利曾挺過17項舉發而維持有效，光焱科技也提出了專業見解反擊。根據檢視公開資料，該專利舉發案之所以不成立，主因在於舉發人當時提出的是更先進的檢測技術與零組件作為證據，主管機關因此認定與汎銓採用之傳統金相顯微鏡技術「無關」。有趣的是，這恰好證明了該專利所保障的僅是舊世代技術，進而明確證實光焱科技採用的高光譜成像系統與汎銓的技術截然不同，自然毫無侵權之疑慮。
光焱科技強調：「產業界皆知，『專利』保障的是特定的技術實施手段，而非將『光損檢測』一詞註冊為商標來買斷市場。」
若按照汎銓的說法，不能因為其針對舊技術申請了專利，就無限上綱認定市場上所有具備「光損檢測」功能的設備皆侵害其權益。光焱科技更進一步舉例，若依此荒謬邏輯，近期國際光學大廠蔡司（Zeiss）宣佈進軍光損檢測領域，難道也構成對汎銓的侵權？此舉凸顯對方說法在產業技術與法律邏輯上皆有失偏頗，恐有利用法律手段干擾市場競爭之嫌。
深層影響：產業創新與競爭倫理
這場專利戰不僅關乎兩家公司的利益，更牽動著整個半導體檢測產業的創新氛圍與競爭倫理。在技術日新月異的今天，若舊有專利能輕易阻礙新技術的發展，無疑會扼殺產業創新的活力。光焱科技的自主研發精神與對智慧財產權的尊重，是臺灣科技產業向前邁進的基石。而這場訴訟的走向，將對未來同業間的競爭模式，以及新技術的推廣與應用，產生深遠的影響。
未解之問：誰來定義技術的界線？
面對這場專利戰，光焱科技表示將積極配合司法程序進行答辯，以捍衛公司、客戶及全體股東之合法權益。然而，這也留下了一個深層的問題：在快速演進的科技領域中，專利的保護範圍該如何界定，才能既鼓勵創新，又不至於成為阻礙產業進步的絆腳石？舊世代的專利，能否真的有效箝制新世代的技術發展？這不僅是法官需要釐清的難題，更是整個產業必須共同思考的課題。
